Меню
Головна
Авторизація/Реєстрація
 
Головна arrow Товарознавство arrow Деякі дані за фізико-хімічними властивостями поверхні хризотил-азбестового волокна

Вивчення фізико-хімічних властивостей хризотил-азбестових волокон Житигаринского родовища

Метою дослідження було вивчення фізико-хімічних властивостей хризотил-азбестових волокон Житигаринского родовища, зокрема, величини зовнішнього діаметра, локального хімічного складу і морфологічної будови досліджуваних зразків.

Матеріали і методи. Хризотил-азбестові волокна, що містяться в складі хризотил-азбестового пилу при виробництві хризотилу

Для дослідження були взяті хризотил-азбестові волокна, що містяться в складі хризотил-азбестового пилу при виробництві хризотилу. Для вивчення фізико-хімічних властивостей і отримання зображень поверхні зразків використовувався растровий електронний мікроскоп Tescan Vega LSU (виробництво Tescan, Чехія) з энергодисперсионным аналізатором INCAPentaFET-x3 (виробництво Oxford Instruments, Англія).

Растровий електронний мікроскоп (РЕМ) Tescan Vega LSU дозволяє вивчати властивості і отримувати зображення об'єктів різного роду, які розміщені в камеру мікроскопа. Принцип роботи РЕМ Tescan Vega LSU заснований на фізичних ефектах взаємодії поверхні твердого зразка з сфокусованим пучком електронів. Методи растрової електронної мікроскопії і рент-геноспектрального мікроаналізу засновані на опроміненні поверхні твердого зразка сфокусованим пучком електронів високої енергії (до 30 кев).

При цьому взаємодія електронного пучка з зразком породжує різні види відповідних сигналів, наприклад, виникнення вторинних електронів, відбитих електронів, гальмівного та характеристичного рентгенівського випромінювань, довгохвильового електромагнітного випромінювання.

Кожен вид сигналу реєструється своїм детектором і відображає ті або інші характеристики зразка.

Нами для вивчення зразків використовувалися наступні сигнали:

· вторинних електронів (детектор Эверхарта-Торнлей);

· відбитих електронів (реєструється детектором сцинтилляторного типу на основі синтетичного кристала YAG);

· характеристичного рентгенівського випромінювання (реєструється энергодисперсионным детектором INCAPentaFET-x3).

Сигнал у вторинних електронах показує топографію поверхні і дозволяє отримувати високий дозвіл зображення. Сигнал у відбитих електронах дає можливість візуалізувати складові за середнім атомному номеру з чутливістю 0,1 середнього атомного номера. Характеристичний рентгенівський спектр використовується для визначення елементного складу. Точне визначення елементного складу можливе тільки за умови, що зразок однорідний у межах області генерації рентгенівського випромінювання, розмір якої залежить від енергії електронів зонда (у нашій роботі типові розміри області генерації становили близько 1 мкм по ширині і близько 2 мкм по глибині).

Визначення розмірів та товщини волокон зразків хризотил-азбесту проводилося за допомогою додаткової опції «Геометричні вимірювання» програмного забезпечення РЕМ Tescan Vega LSU методом паралельного вимірювання.

Інформація про локальному хімічному (елементному) складі була отримана за допомогою енергодисперсійного детектора INCAPentaFET-x3 і оброблена INCA Energy із спектру, збуджуваного швидкими електронами характеристичного рентгенівського випромінювання. Мікроаналіз дозволяє отримувати інформацію про елементному складі зразка як про концентрації елементів, так і про їх просторовому розподілі (картування). Рентгенівський спектр містить лінії, які характеризують присутність даного елемента в пробі, тому якісний аналіз проводиться після ідентифікації ліній по довжинах хвиль (або по енергій фотонів). Порівняння інтенсивностей ліній зразка з інтенсивностями тих же ліній в стандарті (чистий елемент або сполука відомого складу) дозволяє визначити концентрації елементів.

 
Якщо Ви помітили помилку в тексті, виділіть слово та натисніть Shift + Enter
< Попередня   ЗМІСТ   Наступна >
 
Предмети
Агропромисловість
Банківська справа
БЖД
Бухоблік і аудит
География
Документоведение
Естествознание
Журналистика
Информатика
История
Культурология
Литература
Логика
Логистика
Маркетинг
Математика, хімія, физика
Медицина
Менеджмент
Недвижимость
Педагогика
Политология
Право
Психология
Религиоведение
Социология
Статистика
Страхове дело
Техника
Товароведение
Туризм
Философия
Финансы
Экология
Экономика
Етика і естетика
Інше